Universal Scientific Industrial

USI 博客

第一手产业创新科技、应用与深度新闻
  •  07/13/2026

当 AI 学会「读字」:如何用深度学习,驯服 SMT 产线的误报风暴


作者:Yi-Ming Chang、Ti-Li Lin、Hung-Chun Chi、Huang-Po Ying、Daniel Tsai, ALCMM/SMD  AI应用开发部
 
在电子制造的世界里,有一种「假警报」每天都在上演。一块看似完美的电路板被机器判定为「疑似不良」,作业员放下手边工作、拉近萤幕仔细端详,最后发现:它根本没问题。这样的场景,在 SMT(表面黏着技术)产线上一天可能发生成千上万次。

USI 环旭电子的智慧制造团队决定正面迎战这个老问题。我们用一套结合深度学习与相似度比对的创新架构,让自动光学检测(AOI)系统真正「看懂」元件上的文字,把平均误报改善率推到 90%,同时守住制造业最在意的底线:零漏测(Zero Escape)。
 
图一|AOI 系统运作流程(a)与元件标记的多样性(b)。每个被报警的影像都需要人工复检,是产线效率的隐形杀手。


痛点洞察:被「误报」绑架的产线

AOI 之所以能成为 SMT 产线不可或缺的检测工具,靠的是它的高可靠度、操作简便与低成本。它的运作逻辑其实很直觉:工程师事先替每个检测项目建立一批「黄金样品」(Golden Samples)作为标准答案,机器再计算待测影像与黄金样品之间的「相似度」,分数太低就报警。问题出在这套相似度比对对光影、颜色与位置的变化「过度敏感」。同一颗元件,只要打光角度不同、字体稍微偏移、或颜色略有差异,相似度分数就会剧烈下滑。于是机器频频误判,产生大量「狼来了」式的假警报。
 

图二|同一型号元件(T250DCH7)对人眼是同一颗零件,对传统相似度演算法却是「截然不同」的影像。


具体来说,导入新方案之前,产线被三件事卡住:
  • 误报拖垮效率:大量被标记为「疑似缺陷」的影像其实都是好件,却迫使作业员逐张人工确认,造成视觉疲劳,也拖慢整体设备效率(OEE)。
  • 黄金样品难以维护:单一检测项目可能就需要 30 到 80 个黄金样品才能涵盖变异范围。在「少量多样」的生产模式下换线频繁,根本没有足够时间搜集。
  • OCR 也救不了:元件上的商标、不一致的字元长度、多变字体与特殊符号都会干扰光学字元辨识;有些元件甚至在同一行出现不同方向的字元,标准 OCR 难以招架。
而最致命的,是「漏测」(Escape/Underkill)。为了压低误报,工程师有时被迫放宽阈值,反而提高了把坏件当好件放行的风险。一旦供应商混料、或作业员上错料,错误元件流入下一站,往往就是无法挽回的电路失效。传统 MobileNet 模型面对「没学过的错误字样」时,特别容易误判成正确元件,这正是品质防线上最危险的破口。


解决方法:让 AI 同时「认得出」也「比得对」

USI 团队提出的核心思路,是不要把鸡蛋放在同一个篮子里。我们保留了传统 AOI 的相似度比对逻辑,再迭上深度学习强大的特征提取能力,形成「双重保障」。

轻量化的 MobileNet,为产线而生

考量产线对低延迟、低功耗与快速训练的需求,我们选用轻量化的 MobileNet 作为基础,正因为它够轻巧,能让单一 GPU 同时跑多个模型,应付多样的产品与元件。团队更进一步把模型末端改造成两个全连接层(FCL):一层负责输出分类结果(这颗元件是什么类别),另一层则被抽取为「特征向量」,供后续相似度计算使用。

 

图三|本方案架构。影像经 CNN 与两个全连接层后,两者皆过关才判定为良品。


双重验证机制:本方案的灵魂

这是整个方案最关键的创新。系统不再只看深度学习的分类结果(这正是传统 CNN 漏测的主因),而是要求「两个条件同时成立」,唯有两者都通过,才会被判定为良品。这道设计能有效阻止模型把「没见过的错误字样」误认为正确类别,把漏测率压到趋近于零:
  • 条件一|分类正确:模型先预测元件的类别。
  • 条件二|相似度达标:再把特征向量与黄金样品比对,以「最小距离估计法」(Minimum Distance Estimation)计算匹配程度,须高于设定阈值(例如 0.9)。

用迁移学习,破解「没资料」的难题

少量多样的生产特性,意味着短时间内很难累积大量训练影像。我们采用迁移学习:冻结预训练的 CNN 权重,只更新新加入的全连接层。如此一来,即便样本不多,模型也能快速收敛、维持良好的泛化能力,大幅缩短训练与部署时间。此外,针对元件可能出现的上下左右四种方向(电子极性),模型将其视为不同类别来训练;并额外加入一个「Other(其他)」类别来拦截错误字样,进一步强化模型的强健性。


新旧方法,差在哪里?

面向 旧方法 USI 新方法
抗干扰能力 依赖画素/特征比对,极度敏感。亮度、字体偏移或颜色改变都会让相似度分数骤降, 结果是「好件被报错」、误报满天飞。 深度学习特征提取+双重验证。MobileNet 萃取深层特征, 对亮度与位置变化适应力极佳,显著降低误报且不受光影干扰。
训练与
设置效率
耗时的人工调参。每个新元件需手动搜集 30–80 个黄金样品并反复微调, 难以应对频繁换线。 迁移学习+自动特征提取。仅需少量样本即可训练, 系统自动学习特征,模型训练简单快速,可迅速部署。
品质风险
(漏测率)
为减少误报而放宽标准,或演算法无法区分极相似的错字, 容易发生漏测,坏件流入后段造成品质维修或电路失效。 以「相似度阈值」作第二道防线,即使分类出错也能拦截异常影像, 实验证实达成零漏测,确保制程绝对品质。


不仅止于理论,产线上的实战成果
  • 误报率大幅改善(90%):相较传统 AOI,厂内平均误报改善率达 90%,作业员需人工复检的影像数量大幅下降;针对特定元件(如 T250DCH7)改善率甚至高达 92%。
  • 实现零漏测:在约 25,000 张影像的训练资料与大量盲测中,本系统在各类测试场景(含未知错误字样的混料测试)皆达到 0% 漏测率;相较之下,未改良的 MobileNet 在某些测试中出现多达 8 次漏测。
  • 成功拦截未知错料:在模拟上错料的实验中,本系统把所有错误元件正确识别(归为 Other 或因相似度过低而报警),完全避开了传统深度学习模型「把未知物料当良品」的风险。

更重要的是,这套方法已经实际导入真实产线。因为模型易于训练、部署快速,它不只是论文上的成果,而是每天在 USI 厂内守护品质的实战工具,它已经能在产线中直接为我们的客户带来显著的价值:
  • 品质保证与可追溯性(Traceability): 透过精确辨识元件标记,我们可以绝对确保只有正确的元件被组装进客户的产品中。同时,这也强化了供应链的可追溯性,这对于汽车、医疗等对安全性要求极高的产业至关重要。
  • 提升生产效率与降低成本: 革命性地降低误报率,意味着减少了产线上因停机进行人工确认的时间,直接提升了产出率(Yield)并降低了制造成本。
  • 加速新产品导入(NPI): AI 模型具有强大的泛化能力。当客户推出使用新型元件的新产品时,AI 模型通常只需少量的数据进行「微调(Fine-tuning)」,就可以快速适应新元件的辨识,大幅缩短了新产品从研发到量产的时间。

用 AI 重新定义制程中的「信任」

对 USI 环旭电子而言,这项技术的意义远不止于「少按几次警报」。在客户日益走向少量多样、产品迭代飞快的时代,我们把智慧制造能力内建进制程的每一个环节:让 AOI 从一个「会吵的警报器」,进化成一个「看得懂、判得准」的品质伙伴,这项技术的核心在于以分类加相似度的「双重验证架构」,达成 90% 误报改善与「零漏测」。

这代表着三件事:对客户,是更稳定的良率与更短的导入时间;对供应链伙伴,是更可靠的品质承诺与更低的隐性风险;对 USI 自身,则是以 AI 与深度学习为核心的制造竞争力。当「零漏测」从口号变成可量测的事实,USI 在全球电子制造供应链中扮演的,正是那个值得托付的关键角色。





常见问答(Q&A)

Q:什么是 AOI 系统?它在 SMT 制程中有什么用途?
A:AOI(Automated Optical Inspection,自动光学检测)是一种以影像辨识自动检查电路板品质的系统。在 SMT(表面黏着技术)制程中,它用来快速检测焊点、零件位置与元件标记是否正确,因高可靠度、操作简便、成本低,已成为产线不可或缺的品质控管工具。

Q:为什么传统 AOI 会产生大量误报(False Alarms)?
A:传统 AOI 依赖「相似度比对」来判断良莠,这种方法对亮度、颜色与位置的变化非常敏感。同一颗元件只要打光不同、字体些微偏移或颜色略异,相似度分数就会骤降而被误判为不良,产生大量假警报,迫使作业员花费大量时间人工复检。

Q:USI 的深度学习 AOI 方案核心创新是什么?
A:核心是「双重验证机制」。系统同时要求两个条件成立:一是深度学习模型的分类结果正确,二是特征向量与黄金样品的相似度高于阈值(如 0.9)。两者皆通过才判定为良品,能有效防止模型把没见过的错误字样误认为正确元件,把漏测率压到趋近于零。

Q:什么是「漏测(Escape)」?为什么它比误报更危险?
A:漏测(又称 Underkill)是指 AOI 把有缺陷的产品误判为良品而放行。它比误报危险,因为一旦坏件流入下一站,可能造成无法挽回的电路失效,衍生昂贵的维修成本,甚至影响最终产品安全。USI 的方案以相似度阈值作为第二道防线,实验证实达成零漏测。

Q:为什么不直接用 OCR(光学字元辨识)来读元件上的文字?
A:在 SMT 元件检测中,OCR 效果不佳。元件上的商标、不一致的字元长度、多变字体与特殊符号都会干扰辨识;有些元件甚至在同一行出现不同方向的字元,标准 OCR 难以处理。因此 USI 改采深度学习特征提取结合相似度比对的架构。

Q:迁移学习如何解决训练资料不足的问题?
A:少量多样的生产模式很难短时间累积大量训练影像。迁移学习透过冻结预训练的 CNN 权重、只更新新增的全连接层,使模型在少量样本下也能快速收敛并维持良好泛化能力,大幅缩短训练与部署时间。

Q:这项技术为 USI 的客户与供应链带来什么价值?
A:对客户,带来更稳定的良率与更短的导入时间;对供应链伙伴,提供更可靠的品质承诺与更低的隐性风险;对 USI,则强化了以 AI 与深度学习为核心的智慧制造竞争力。此方案已实际导入真实产线,每日守护 SMT 制程品质。


 

最近的文章

Universal Scientific Industrial

请输入关键字

告诉USI您的想法

请您花几分钟时间留下意见
回馈意见采匿名式

订阅 USI 电子报

跟紧产业脉动
随时掌握第一手产业创新科技、应用与深度新闻

前往订阅
已经订阅
Universal Scientific Industrial
忘记帐户名称?

请发送电子邮件到service@usiglobal.com 寻求协助

请使用微信扫描此 QR 码后分享